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涂层测厚仪 型号:KM1-LS225

涂层测厚仪 型号:KM1-LS225

简要描述:
涂层测厚仪 型号:KM1-LS225

探头型号
F500铁基探头
测量原理:磁感应
基体材料:铁磁性金属
测量范围:0.0~500μm
测量间隔:
1.5s(单次模式)
0.4s(连续模式)

产品时间:2025-08-20

访问量:2087

厂商性质:生产厂家

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涂层测厚仪 型号:KM1-LS225

LS225涂镀层测厚仪由LS225主机和探头组成,目前主机可支持F500铁基探头和N1500、N2000非铁基探头。F500和N1500采用小探头设计,适合于钉子、螺栓等小工件的薄镀层或各种铝材表面、阳极氧化层测量。N2000采用自重触发测量设计,适合测量平面板材的涂层厚度。

涂层测厚仪 型号:KM1-LS225

探头型号
F500铁基探头
测量原理:磁感应
基体材料:铁磁性金属
测量范围:0.0~500μm
测量间隔:
1.5s(单次模式)
0.4s(连续模式)
分辨率:
0.1μm:(0μm ~ 99.9μm)
1μm:(100μm ~500μm)
重复性:≤±(0.8%H+0.1μm)手压测试机架测试,H为标准值
误差:±(2%H+0.3μm)五点校准,H为标准值
单位:μm / mil
小曲率半径:凸面1.5mm,凹面10mm
小基体厚度:0.1mm



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